O МЕТОДИКЕ УЧЕТА ЭФФЕКТА ШТАРКА ПРИ РАСЧЕТАХ СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПЛАЗМЫ

А. Ф. Никифоров

, В. Г. Новиков, H. H. Фимин

Вопросы атомной науки и техники. Сер. Математическое моделирование физических процессов 2007. Вып.2. С. 20-33.

Эффект уширения спектральных линий под воздействием ионного микрополя (эффект Штарка) может оказаться важным при расчете коэффициентов поглощения фотонов в плотной высокотемпературной плазме. Рассматривается методика учета эффекта Штарка в квазистатическом приближении, основанная на диагонализации возмущенного ионным микрополем гамильтониана иона. Распределение ионного микрополя получено с использованием модели возмущающих независимых частиц. Методика может применяться как для легких элементов, так и для элементов с большим зарядом атомного ядра. Расчеты основаны на релятивистской модели Хартри-Фока-Слэтера и проводились с помощью программы THERMOS, разработанной в ИПМ им. М. В. Келдыша (рис. 8, табл. 6, список лит. - 10).